ToF-SIMS steht für Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, zu Deutsch: Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie. Es handelt sich dabei um eine Methode zur Analyse von …
ToF-SIMS steht für Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, zu Deutsch: Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie. Es handelt sich dabei um eine Methode zur Analyse von Materialoberflächen und ...